【客製化電源】研發階段的參數管控對良率的影響

隨著市場競爭壓力越來越大，加之PSR一次側回授線路簡單，成本相對SSR二次側回授要有優勢，越來越多的電源採用PSR線路架構進行設計。然而PSR線路有優勢，也有劣勢，在peak load以及dynamic load特性上遠遠不如SSR架構，更值得一提的是PSR基於一次側偵測控制輸出電壓，這種架構的電源在市場上的良率其實並不高。

常常出現的問題有：

• 正常工作時，輸出電壓過高。
• 正常工作時，輸出電壓過低。
• 雷電天氣使用時，系統突然藍屏或無法開機。

通常出現輸出電壓過高或過低的問題，都是因量產後元件批量容差造成的搭配性問題。然而，亞源的電源產品，在設計時就採用DFMEA以及Limited condition測試針對影響輸出電壓的相關的元件參數值進行管控，來避免這種不良。

 

PSR IC採樣電壓通常有兩種方式：

• 延遲法採樣平臺電壓
• 斜率法採樣拐點電壓

後者應用到數位IC技術，IC的成本相對較高，所以市場上大部分PSR產品以延遲法為主（如圖所示）

延遲採樣控制原理公式如下：

Vout= Vsampling/Naux*Ns-Vd

Vout: 輸出電壓

Vsampling：採樣點電壓

Naux:輔助繞組圈數

Ns:二次側繞組圈數

Vd:二次側二極體壓降

 

輸出電壓會受sampling point電壓變化而變化，然而sampling 電壓又和Transformer繞線工藝，輔助Diode Trr, Clamping Resistor , IC FB電壓精度等有關。所以控制好上面元件的參數才能本質上解決電壓不飄的問題。

亞源的PSR產品都會針對這些元件的參數做極限測試，以及極限交叉測試來確保輸出電壓的穩定性，以防止輸出電壓過高或過低對客戶系統的影響。